공지사항

고등기술연구원 시험분석센터에 XRF(x선 형광분석기) 장비를 새로 도입하였습니다.

작성자 : 관리자     작성일 : 04-08      조회수 : 699

고등기술연구원 시험분석센터에 신규 XRF(x선 형광분석기) 장비를 도입하였습니다.


WD-XRF (Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence spectroscopy, 파장분산형 X선 형광분석기)


· 파장분산형 XRF는 시료에 X선을 조사하여, 시료로부터 발생하는 형광 스펙트럼을 분석하여 원소의 조성 및 함량을 분석하는 장비.


· 비파괴적 분석방법으로 고체, 분말등의 조성 및 함량을 빠르게 분석 가능.


· 응용분야 

   - 금속의 구성원소 및 함량

   - 미지시료의 구성원소 및 함량

   - 광물 및 광석의 구성원소 및 함량



아래와 같이 분석 요율을 적용하여 48일부터 분석 진행합니다.

 

장비명

분석요율

XRF

· 기본 분석(Metal/Oxide): 30,000/시료

· Powder 시료 pellet 제작(시료 전처리 포함): 35,000/시료


· 하기 내용은 시험분석센터 관리규정에 의거함.

   - 원내 사용자는 분석 의뢰의 경우 기존 수가의 100%, 자율 분석의 경우 기존 수가의 70%

     (자율분석은 SEM과 같은 일부 분석기기는 제외되며, 기기 사용능력이 인정되는 사람으로 한정함)

   - 연구원 입주 기업 분석 의뢰자는 기존 수가의 80%  

   - 연구원 입주 이외의 외부 사용자는 기존 수가의 100%


· X-Ray Fluorescence spectroscopy (XRF) 

  X선 형광분석기


   - 제조사 : Rigaku

   - 모델명 : ZSX PrimusIV 

   - 분석원소 : 4Be~92U

   - X-ray generator : 4kW (60kV, 150mA)


e1a618ba80ac62229cb126f45c3b509a.png